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璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

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璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-27 22:00

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

仪器的技术指标Q值测量范围:2~1023Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。电容直接测量范围:1~460pF                                                主电容调节范围:30~500pF                                            电容准确度150pF以下±1.5pF;150pF以上±1% 信号源频率覆盖范围100KHz-70MHz(双频对向搜索  确保频率不被外界干扰)另有GDAT-C频率范围200KHZ-100MHz

 璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

内部自带直流偏置源

软键区域:该区域被用于显示软键的功能定义。软键的定义随光标所在的域的位置不同而具有不同功能的定义。

电流激励低端(Lcur)。

机壳接地端:该接线端与仪器机壳相连。可以用于保护或屏蔽接地连接。

10点列表扫描测试功能30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

<极限设置>

偏置源 内部 -5V~+5V直流偏置电压源,准确度:1%

LCR测量功能时,用于进入元件测量显示页面。主要关于电容、电阻、电感、阻抗测量功

夹具插头间距:25mm±1mm

开路校正

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

基本测量准确度 0.05%

按主菜单键后相应显示的页面

本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。性能特点:

开路校正

[ESC]键:退出键。

<网络设置>

0.01mΩ —99.9999 MΩ

<网络设置>

3.显示范围

LCR测量功能时,用于进入元件测量显示页面。主要关于电容、电阻、电感、阻抗测量功

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm

开机插上三线电源插头,注意:应保持供电电压、频率等条件符合上述规定。电源输入相零地线E 应与本仪器电源插头上的相线,零线相同。

园筒电容器

[SETUP]功能键

电压取样高端(Hpot);

<极限设置>

[←]键:BACKSPACE 键。按此键删除输入数值的后一个数字。

[KEYLOCK]键:按[KEYLOCK]键,[KEYLOCK]按键会被点亮,表示当前面板按键功能被锁定;再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭,表示解除键盘锁定状态。如果口令功能设置为“ON”,解除键盘锁定时需输入正确的口令,否则无法解除键盘锁定。当仪器受到RS232 控制时[KEYLOCK]按键会被点亮。再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭,表示回到本地解除键盘锁定状态。

延时时间 0—60s, 以1ms步进

按[SETUP]键后,将显示<测量页面>,使用光标键([←][→] [↑] [↓])将光标移到你想要的设置位。例如:“功能:R-X”,然后按软建使“功能:R-X”改为“功能:Cp-D”。

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

内部自带直流偏置源

显示区域定义

维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

将测试夹具连接到仪器测试端。用一个短路校准附件放置于二个极片之间,调节电极间距,使二电极短路.

输出阻抗 30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可选择

基本操作

数显电极

<元件测试设置>

园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

[SETUP]功能键

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。概述GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪,体积小,紧凑便携,便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%,测试频率高1MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口,能满足自动分选测试,数据传输和保存的各种要求。

频率频率2 的短路校正数据将被用于短路校正的计算。按软键 关 ,关闭短路校正功能。以后的测量过程中将不再进行短路校正的计算。

输出阻抗 30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可选择

按软键 DCR 开路,将进行直流电阻功能下开路电阻的测量。

园筒电容器

GDAT-S 的开路校正功能能与被测元件相并联的杂散导纳造成的误差。

测量数据可直接保存到U盘RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

[KEYLOCK]键:按[KEYLOCK]键,[KEYLOCK]按键会被点亮,表示当前面板按键功能被锁定;再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭,表示解除键盘锁定状态。如果口令功能设置为“ON”,解除键盘锁定时需输入正确的口令,否则无法解除键盘锁定。当仪器受到RS232 控制时[KEYLOCK]按键会被点亮。再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭,表示回到本地解除键盘锁定状态。

[SETUP]菜单键:按[SETUP]键,进入仪表功能设置和相应的测试设置页面。 [SYSTEM]菜单键:按[SYSTEM]键,进入系统设置页面。 数值键:数值键用于向仪器输入数据。数值键由数字键至,小数点[.]和[+/-]键组成。

[KEYLOCK]键:按[KEYLOCK]键,[KEYLOCK]按键会被点亮,表示当前面板按键功能被锁定;再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭,表示解除键盘锁定状态。如果口令功能设置为“ON”,解除键盘锁定时需输入正确的口令,否则无法解除键盘锁定。当仪器受到RS232 控制时[KEYLOCK]按键会被点亮。再次按[KEYLOCK]键, [KEYLOCK]按键会熄灭,表示回到本地解除键盘锁定状态。

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。概述GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪,体积小,紧凑便携,便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%,测试频率高1MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口,能满足自动分选测试,数据传输和保存的各种要求。

助手显示区域:该区域用于显示系统提示信息。

[COPY]键:图片保存键,保存测试结果图片到USB 存储器。[MEAS]菜单键:按[MEAS]键,进入仪表测量功能相应的测试显示页面。

<元件测试设置>

[SETUP]菜单键:按[SETUP]键,进入仪表功能设置和相应的测试设置页面。 [SYSTEM]菜单键:按[SYSTEM]键,进入系统设置页面。 数值键:数值键用于向仪器输入数据。数值键由数字键至,小数点[.]和[+/-]键组成。

开机插上三线电源插头,注意:应保持供电电压、频率等条件符合上述规定。电源输入相零地线E 应与本仪器电源插头上的相线,零线相同。

[ENTER]键:[ENTER]键用于终止数据输入,确认并保存输入行(LCD 下面一行)显示的数据。

将测试夹具连接到仪器测试端。并调节夹具的二个电极的间距>8mm,没有连接到任何被测元件。 按软键 开路全频清零,将对所有频率点的开路导纳(电容和电感)进行测量。开路全频校正大约需要75 秒的时间。在开路全频校正过程中,显示下面软键。

0.00001µS —99.9999 S0.00001 pF — µH —9999.99 H0.00001 — —º —179.999 º3.14159 —3.14159

基本操作如下所述:

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可外接大电流直流偏置源

将测试夹具连接到仪器测试端。并调节夹具的二个电极的间距>8mm,没有连接到任何被测元件。 按软键 开路全频清零,将对所有频率点的开路导纳(电容和电感)进行测量。开路全频校正大约需要75 秒的时间。在开路全频校正过程中,显示下面软键。

园筒电容器

<档计数显示>

用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。概述GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪,体积小,紧凑便携,便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%,测试频率高1MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口,能满足自动分选测试,数据传输和保存的各种要求。

<档号显示>

极片尺寸:φ25.4mm\φ50mm

[SETUP]功能键

[ESC]键:退出键。

机壳接地端:该接线端与仪器机壳相连。可以用于保护或屏蔽接地连接。

璧山GDAT-a介电常数测试仪批发采购

[ESC]键:退出键。

开路校正包括采用插入计算法的全频开路校正和对所设定的2 个频率点进行的单频开路校

夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)

按软键 关 ,关闭开路校正功能。以后的测量过程中将不再进行开路校正的计算。

[ESC]键:退出键。

<档计数显示>

其他比较器功能 十档:(九档合格,一档不合格),另有一个附属档AUX

<测量显示>

维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

[DC SOURCE]键:[DC SOURCE]键,此功能键预留,以便将来扩展使用。

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平衡测试功能

<默认设置>

测量速度(≥1kHz) 快速: 200次/秒, 中速: 12次/秒, 慢速: 3次/秒 平均次数 1—255

短路校正包括采用插入计算法的全频短路校正和对所设定的2 个频率点进行的单频短路校正。执行下列操作步骤利用插入计算法对全频率进行短路校正。

接口 标配RS232C、HANDLER、USB HOST,耳机接口,可选GPIB、LAN接口;通用技术参数

此键用于进入元件测试各设置画面。这部分的功能页面有:

测量速度(≥1kHz) 快速: 200次/秒, 中速: 12次/秒, 慢速: 3次/秒 平均次数 1—255

按[SETUP]键后,将显示<测量页面>,使用光标键([←][→] [↑] [↓])将光标移到你想要的设置位。例如:“功能:R-X”,然后按软建使“功能:R-X”改为“功能:Cp-D”。

测试原理

<极限设置>

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